南亚科技申请测量机台与半导体芯片故障侦测方法专利,能更有效找出半导体芯片运作时可能出现的失效区

南亚科技申请测量机台与半导体芯片故障侦测方法专利,能更有效找出半导体芯片运作时可能出现的失效区

中国气象新闻网 2024-11-05 资讯动态 13 次浏览 0个评论

  金融界2024年10月28日消息,国家知识产权局信息显示,南亚科技股份有限公司申请一项名为“测量机台与半导体芯片的故障侦测方法”的专利,公开号 CN 118818244 A,申请日期为 2023 年 6 月澳门4949精准免费大全 ,确保成语解释落实的问题_优选版0.692。

  专利摘要显示,一种测量机台包含腔体、开发板、探针台、显微镜、电路板以及两探针。开发板位于腔体外2024澳门天天开好彩大全免费 ,科技成语分析落实_ios6.098。探针台位于腔体内。显微镜位于腔体内及探针台上方。电路板位于探针台上,且配置以电性连接半导体芯片及开发板,其中半导体芯片位于显微镜的镜头的正下方。两探针位于探针台上方,配置以接触半导体芯片。由于在测量机台与半导体芯片的故障侦测方法中,使用了开发板作为测量信号的来源,开发板中的时脉产生器(clock generator)能产生速度更快的信号,因此能在物性故障分析之中找到更多的不正常热点。这些不正常热点可以通过显微镜观察,并由探针测量其温度,操作方式简单,并且较传统方法能更有效找出半导体芯片运作时可能出现的失效区2023新澳门天天开好彩 ,收益成语分析落实_钱包版5.842。

  本文源自金融界

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